原位荧光‑吸收闪蒸成膜系统 全新上市

原位荧光‑吸收闪蒸成膜系统，打破传统黑箱式镀膜局限，实现薄膜制备全过程原位表征。设备可同步采集吸收与 PL 荧光信号，实时追踪 带隙变化、结晶与缺陷演化；真空成膜期间不间断高速采集光谱，通过时序同步软件关联工艺与物相数据。光学套件模块化选配，预留光 学视窗，捕获瞬态中间过程，助力光电薄膜机理研究与工艺优化

仪器名称:

1)原位PL吸收测试系统

2) 品牌:威德仪器

3)仪器型号:WD-VFE10C-IFA

4)设备模组:

1. 光谱仪

2. 荧光光谱检测套件

3. 吸收光谱检测套件

4. 卤素灯光源

5. 定制立式开放光学支架

5)系统运行方式:采用立式十字滑台，横梁支持上下调节，荧光探头支持横向位置调节和上下位置手动微调，支持斜入射和正入射调节(双档位)

6)系统参数

1. Sino 高速工业光谱仪，数量1，兼顾荧光以及吸收检测，最大采样频率不小于

10Hz，即~100ms一张光谱。探测范围覆盖325-1100nm,光谱分辨率优于10nm,

2. 荧光光谱检测套件，405nm激发，激发功率0-Max可调，工作距离(即探头至样品

表面距离)不低于10cm,样品表面光斑尺寸不大于0.3cm*0.3cm，内置滤光片组，

包括带通、二向色及长波通滤光片,荧光检测波段覆盖455-1000nm，可有效实现对

激发光的过滤。

3.吸收光谱检测套件，通过光纤接入卤素光源，工作距离(即探头至样品表面距离)不

低于 10cm，样品表面光斑尺寸不大于0.3cm*0.3cm.

4. 卤素光源光谱波段覆盖 380~1700nm,SMA905 光纤接口。

5.定制立式开放式光学支架。

6.含对应软件，软件支持测试时长30分钟的

数据逐张存储，单独导入分析。不含电脑。
7.针对闪蒸吸收，额外增加2根光纤，含2个准直镜

支架

1. 荧光检测接口

顶部配备XY轴高精度手动位移台，用于搭载PL荧光光纤（兼容10mm或以下尺寸），满足原位荧光信号采集需求。

2. 吸收检测接口

样品台设有透明穿孔，标准配置适配8mm光纤接入，用于透射式吸收光谱采集；其他尺寸光纤接口可依据需求定制。